X射线光电子能谱仪
仪器名称🐗⏱：X射线光电子能谱仪
仪器型号：AXIS SUPRA+
生产厂家：日本岛津有限公司
仪器简介：X射线光电子能谱仪主要用于固体表面和界面的化学信息，可以分析除氢、氦以外的所有元素🤤⛹️，包括元素种类及价态，并可以提供测定元素相对含量的半定量分析。XPS与成像功能和离子溅射刻蚀相结合，可以用于固体表面元素成分及价态的面分布和深度剖析🏊🏽。XPS在各类功能薄膜的机理研究、纳米材料🟥、电子材料、高分子材料🌙、材料的腐蚀与防护🧑🏿🏭、催化剂研究与失效分析等方面广泛应用👮🏼♀️。
出厂主要技术指标👩🔧：
1、单色化X光源：加速电压15kV🍅；最大功率和最大束斑下，单位面积上的X射线功率不大于0.4mW/μm2
2👨🎨、AI单色XPS指标：大束斑能量分辨和灵敏度0.45eVe160kcps、0.5eV@650kcps、0.6eV@2.5Mcps；最小束斑(15～20μm)💇🏽♀️；最佳能量分辨和灵敏度👩🏼🌾：0.5eV@1.5kcps🐂、0.6eV@6kcps；
3、单色化高能XPS指标★：Ag单色X射线源；大束斑能量分辨0.9eV👨🚒，大束班能量分辨和灵敏度5kcps🙋♀️；
4👌🏻、Al/Mg非单色化X光源🚣🏿♀️：水冷Al/Mg双阳极；功率不小于450W(15kV@30mA)；
5、Al/Mg非单色XPS指标🙇♂️：大束斑能量分辨和灵敏度0.8eV@800kcps；最小束班(015～20μm)最佳能量分辨和灵敏度1.0eV@10kcps🏋🏻♂️；
6.选区XPS和平行成像XPS💠：选择性分析区域束斑大小👮：15μm至大束斑(200μm以上)；
6.2平行成像XPS空间分辨(锐利刀口样品，线扫描强度80%～20%的宽度):1μm👘。
送样要求：
1👩🏽🏫、样品可以为粉末样品、薄膜样品或块状样品✈️。其中🫚：粉末样品粒度要尽量细，50mg左右即可👨🏿✈️；薄膜及块状样品做好标记，说明测试面，块状样品尺寸小于5*5*2(mm)（高度不应超过2mm，最好控制在1mm以内）。
2、 尽量保持样品干燥，表面清洁无污染🤞🏽，对于大量放气，尤其是多孔粉状样品，进仪器前应先真空烘干🥠🏊♀️，密封保存送样。
3、氢元素不能检测🦧，不检测含单质硫、碘、氟、溴的样品。
4、禁止送有磁性⚡️、毒性以及放射性样品。
5🙂、禁止送易挥发，在超高真空状态下大量放气的样品，尤其是具有腐蚀性气体的样品。
6、对于高分子、有机物等不耐轰击的样品请慎重测试
7、UPS测试样品必须新鲜、导电。